Advanced Test Methods for SRAMs

Name: Advanced Test Methods for SRAMs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781489983145
Price: 37471 HUF
Availability: InStock

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Szerző: Girard, Patrick, PH.

Nyelv:

Kötés: Puha kötésű

Kiadó: Springer-Verlag New York Inc.

Elérhetőség: Beszállítói készleten

Küldés 10-18 napon belül

37 471 Ft

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SR...

Információk a könyvről

Szerző

Girard, Patrick, PH.

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Puha kötésű

Kiadva

2014

oldal

171

EAN

9781489983145

ISBN

9781489983145

Enbook ID

09062252

Kiadó

Springer-Verlag New York Inc.

Súly

297

Méretek

155 x 235 x 235

Teljes leírás

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták