Advances in X-Ray Analysis
Szerző:
C. S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G. J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith
Elérhetőség:
Beszállítói készleten
Küldés 5-8 napon belül
19 777
Ft