Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Name: Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Brand: Springer International Publishing AG
SKU: 9783319696720
Price: 39968 HUF
Availability: InStock

Szerző: Selahattin Sayil

Nyelv:

Kötés: Kemény kötésű

Kiadó: Springer International Publishing AG

Elérhetőség: Beszállítói készleten

Küldés 10-13 napon belül

39 968 Ft

This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactl...

Információk a könyvről

Szerző

Selahattin Sayil

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Kemény kötésű

Kiadva

2017

oldal

EAN

9783319696720

ISBN

3319696726

Enbook ID

18184965

Kiadó

Springer International Publishing AG

Súly

339

Méretek

155 x 235 x 11

Teljes leírás

This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták