Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Szerző:
Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
Elérhetőség:
Beszállítói készleten
Küldés 10-13 napon belül
76 962
Ft
The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms...
