Több mint 4 millió cím angol és más nyelveken! Fedezd fel új történetedet még ma!

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Name: Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 9780750305006
Price: 160002 HUF
Availability: InStock

Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

Szerző: I. Rechenberg

Nyelv:

Kötés: Kemény kötésű

Kiadó: Taylor & Francis Ltd

Elérhetőség: Beszállítói készleten

Küldés 9-15 napon belül

160 002 Ft

Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic...

Információk a könyvről

Szerző

I. Rechenberg

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Kemény kötésű

Kiadva

1998

oldal

524

EAN

9780750305006

ISBN

9780750305006

Enbook ID

06681091

Kiadó

Taylor & Francis Ltd

Súly

1170

Méretek

156 x 234 x 30

Teljes leírás

Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This book addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. It investigates defects in layers and devices.