Electromigration Inside Logic Cells

Name: Electromigration Inside Logic Cells
Brand: Springer International Publishing AG
SKU: 9783319488981
Price: 20665 HUF
Availability: InStock

Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Szerző: Gracieli Posser, Sachin S. Sapatnekar, Ricardo Reis

Nyelv:

Kötés: Kemény kötésű

Kiadó: Springer International Publishing AG

Elérhetőség: Beszállítói készleten alacsony példányszámban

Küldés 13-18 napon belül

20 665 Ft

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-inte...

Információk a könyvről

Szerző

Gracieli Posser, Sachin S. Sapatnekar, Ricardo Reis

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Kemény kötésű

Kiadva

2016

oldal

118

EAN

9783319488981

ISBN

3319488988

Enbook ID

15194720

Kiadó

Springer International Publishing AG

Súly

3376

Méretek

155 x 235 x 14

Teljes leírás

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Electromigration Inside Logic Cells

Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták