High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Name: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 9780850667585
Price: 102119 HUF
Availability: InStock

Szerző: B. K. Tanner

Nyelv:

Kötés: Kemény kötésű

Kiadó: Taylor & Francis Ltd

Elérhetőség: Beszállítói készleten

Küldés 9-15 napon belül

102 119 Ft

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining t...

Információk a könyvről

Szerző

B. K. Tanner

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Kemény kötésű

Kiadva

1998

oldal

264

EAN

9780850667585

ISBN

9780850667585

Enbook ID

06695007

Kiadó

Taylor & Francis Ltd

Súly

656

Méretek

178 x 263 x 20

Teljes leírás

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták