High-Resolution X-Ray Scattering

Name: High-Resolution X-Ray Scattering
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9780387400921
Price: 51266 HUF
Availability: InStock

From Thin Films to Lateral Nanostructures

Szerző: Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach

Nyelv:

Kötés: Kemény kötésű

Kiadó: Springer-Verlag New York Inc.

Elérhetőség: Beszállítói készleten alacsony példányszámban

Küldés 13-18 napon belül

51 266 Ft

The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for th...

Információk a könyvről

Szerző

Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Kemény kötésű

Kiadva

2004

oldal

408

EAN

9780387400921

ISBN

0387400923

Enbook ID

01382119

Kiadó

Springer-Verlag New York Inc.

Súly

860

Méretek

155 x 235 x 22

Teljes leírás

The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for the investigation of the real structure of single-crystalline layers and multilayers, including structure defects in the layers and at the interfaces. Particular attention is devoted to lateral structures in semiconductors and semiconductor multilayers such as quantum wires and quantum dots. Both the theoretical background and the application of the methods are discussed. The second edition is extended to deal with lateral surface nanostructures such as gratings and dots, new examples for measuring layer thickness, lattice mismatch, and surface/interface roughness. The book will be an invaluable source for graduates and scientists.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

High-Resolution X-Ray Scattering

From Thin Films to Lateral Nanostructures

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták