Könyv Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338 Peter BJohn C. CoburnWilliam F. FilterJohn E. Sanchez

Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338

Nyelv: Angol
Kötés: Kemény kötésű
Elérhetőség: Utánnyomás
Megjelenés ismeretlen
8 508 Ft
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research...

Információk a könyvről

Nyelv
Angol
Kötés
Könyv - Kemény kötésű
Kiadva
1994
oldal
629
EAN
9781558992382
ISBN
1558992383
Enbook ID
02060018
Súly
1045
Méretek
160 x 231 x 38

Teljes leírás

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Érdekelheti

ISE Physical Geology

Charles (Carlos) Plummer
28 929 Ft

Seabrook Farms

Cheryl L. Baisden
7 740 Ft
18 610 Ft
6 434 Ft
28 449 Ft

New Cambridge Companion to Shakespeare

Margreta De GraziaStanley Wells
47 986 Ft

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Denken

Thomas Zipsner
3 505 Ft

Schlußakkord

Günter Hofe
5 234 Ft
37 495 Ft

Medium

Emmanuelle Tassy-Bunyan
7 058 Ft
9 607 Ft
18 159 Ft

Mein Lesetagebuch

Noëmi Caruso
3 505 Ft