Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225

Name: Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225
Brand: Materials Research Society
SKU: 9781558991194
Price: 12134 HUF
Availability: PreOrder

Szerző: James R. LloydFrederick G. YostPaul S. Ho

Nyelv:

Kötés: Kemény kötésű

Kiadó: Materials Research Society

Elérhetőség: Utánnyomás

Megjelenés ismeretlen

12 134 Ft

With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability proble...

Információk a könyvről

Szerző

James R. LloydFrederick G. YostPaul S. Ho

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Kemény kötésű

Kiadva

1991

oldal

382

EAN

9781558991194

ISBN

1558991190

Enbook ID

02059930

Kiadó

Materials Research Society

Súly

700

Méretek

155 x 235 x 25

Teljes leírás

With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability problems be attacked properly with the appropriate tools. This volume recognizes that almost all reliability problems are materials problems, and helps to put 'reliabilty physics' on a firm scientific foundation. Topics include: electromigration; stress effects on reliability; stress and packaging; metallization; device, oxide and dielectric reliability; new investigative techniques; corrosion.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták