Multi-Chip Module Test Strategies

Name: Multi-Chip Module Test Strategies
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461377986
Price: 38542 HUF
Availability: InStock

Szerző: Yervant Zorian

Nyelv:

Kötés: Puha kötésű

Kiadó: Springer-Verlag New York Inc.

Elérhetőség: Beszállítói készleten

Küldés 5-8 napon belül

38 542 Ft

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physica...

Információk a könyvről

Szerző

Yervant Zorian

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Puha kötésű

Kiadva

2012

oldal

167

EAN

9781461377986

ISBN

9781461377986

Enbook ID

06623159

Kiadó

Springer-Verlag New York Inc.

Súly

369

Méretek

195 x 260 x 10

Teljes leírás

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. §Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. §Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2). §

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Multi-Chip Module Test Strategies

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták