Könyv Nanometer Technology Designs Nisar Ahmed

Nanometer Technology Designs

High-Quality Delay Tests

Szerző: Nisar Ahmed
Nyelv: Angol
Kötés: Puha kötésű
Elérhetőség: Beszállítói készleten
Küldés 5-8 napon belül
38 497 Ft
Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new c...

Információk a könyvről

Szerző
Nyelv
Angol
Kötés
Könyv - Puha kötésű
Kiadva
2011
oldal
281
EAN
9781441945594
ISBN
1441945598
Enbook ID
01423022
Súly
462
Méretek
155 x 235 x 15

Teljes leírás

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.

Érdekelheti

80 070 Ft

Desert Fathers and Mothers

Christine Paintner
6 528 Ft

Amazing Illustrations-Mazes

MR Timothy L Worachek
3 838 Ft
4 833 Ft

Between Two Worlds

Cemal Kafadar
12 383 Ft

Object Lessons

Anna Quindlen
9 993 Ft
86 566 Ft

Local Visitations

Stephen Dunn
5 546 Ft

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták