Noncontact Atomic Force Microscopy

Name: Noncontact Atomic Force Microscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642627729
Price: 76973 HUF
Availability: InStock

Szerző: E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Nyelv:

Kötés: Puha kötésű

Kiadó: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Elérhetőség: Beszállítói készleten

Küldés 5-8 napon belül

76 973 Ft

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based...

Információk a könyvről

Szerző

E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Puha kötésű

Kiadva

2012

oldal

440

EAN

9783642627729

ISBN

9783642627729

Enbook ID

06617965

Kiadó

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Súly

692

Méretek

155 x 235 x 25

Teljes leírás

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Noncontact Atomic Force Microscopy

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták