Positron Profilometry

Name: Positron Profilometry
Brand: Springer, Berlin
SKU: 9783031410925
Price: 16832 HUF
Availability: InStock

Probing Material Depths for Enhanced Understanding

Szerző: Jerzy Dryzek

Nyelv:

Kötés: Puha kötésű

Kiadó: Springer, Berlin

Elérhetőség: Beszállítói készleten

Küldés 8-11 napon belül

16 832 Ft

This book provides a comprehensive overview of positron profilometry, specifically focusing on the a...

Információk a könyvről

Szerző

Jerzy Dryzek

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Puha kötésű

Kiadva

2023

oldal

152

EAN

9783031410925

Enbook ID

43748855

Kiadó

Springer, Berlin

Súly

272

Méretek

155 x 235

Teljes leírás

This book provides a comprehensive overview of positron profilometry, specifically focusing on the analysis of defect depth distribution in materials. Positron profilometry plays a crucial role in understanding and characterizing defects in a wide range of materials, including metals, semiconductors, polymers, and ceramics. By analyzing the depth distribution of defects, researchers can gain insights into various material properties, such as crystal structure, defect density, and diffusion behavior. The author's extensive research spanning a period of two decades has primarily centered on subsurface zones. These regions, located beneath the surface and subjected to various surface processes, play a crucial role in generating defect distributions. Three experimental techniques and their data analysis are described in detail: a variable-energy positron beam (VEP) called sometimes a slow positron beam, a technique called implantation profile depth scanning (DSIP), and a sequential etching (SET) technique. The usability of these techniques is illustrated by many examples of measurements by the author and others.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Positron Profilometry

Probing Material Depths for Enhanced Understanding

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták