Quantitative X-Ray Diffractometry

Name: Quantitative X-Ray Diffractometry
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461395379
Price: 38497 HUF
Availability: InStock

Szerző: Giora Kimmel

Nyelv:

Kötés: Puha kötésű

Kiadó: Springer-Verlag New York Inc.

Elérhetőség: Beszállítói készleten

Küldés 5-8 napon belül

38 497 Ft

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray dif...

Információk a könyvről

Szerző

Giora Kimmel

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Puha kötésű

Kiadva

2011

oldal

372

EAN

9781461395379

ISBN

9781461395379

Enbook ID

06624110

Kiadó

Springer-Verlag New York Inc.

Súly

681

Méretek

170 x 244 x 22

Teljes leírás

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Quantitative X-Ray Diffractometry

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták