Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Szerző:
Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy
Elérhetőség:
Beszállítói készleten
Küldés 8-11 napon belül
37 775
Ft
This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a...