Scanning Probe Microscopy

Name: Scanning Probe Microscopy
Brand: In Tech
SKU: 9789535105763
Price: 43906 HUF
Availability: InStock

Physical Property Characterization at Nanoscale

Szerző: Vijay Nalladega

Nyelv:

Kötés: Kemény kötésű

Kiadó: In Tech

Elérhetőség: Beszállítói készleten

Küldés 10-13 napon belül

43 906 Ft

Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnol...

Információk a könyvről

Szerző

Vijay Nalladega

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Kemény kötésű

Kiadva

2012

oldal

258

EAN

9789535105763

ISBN

9535105760

Enbook ID

24120415

Kiadó

In Tech

Súly

612

Méretek

170 x 244 x 16

Teljes leírás

Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Scanning Probe Microscopy

Physical Property Characterization at Nanoscale

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták