Könyv Semiconductor Memory Testing Anuj Gupta

Semiconductor Memory Testing

Fault Models and Test Considerations for High Performance Embedded SRAM's

Szerző: Anuj Gupta
Nyelv: Angol
Kötés: Puha kötésű
Elérhetőség: Kiadói készleten rendelésre
Küldés 17-27 napon belül
17 189 Ft
Stringent test quality requirements, at-speed test limitations & total cost associated with using ex...

Információk a könyvről

Szerző
Nyelv
Angol
Kötés
Könyv - Puha kötésű
Kiadva
2009
oldal
64
EAN
9783639194401
Enbook ID
06827526
Súly
114
Méretek
151 x 4 x 10

Teljes leírás

Stringent test quality requirements, at-speed test limitations & total cost associated with using expensive off-chip testers for embedded memory testing have forced system designers to introduce on-chip Memory Built-in Self Test (MBIST) techniques to generate, apply, read and compares test patterns in order to expose subtle defects of SRAM''s. The book discusses in detail the various fault models and test requirements associated with embedded SRAM s in today s System-On-Chip s and focuses on the implementation of testing algorithms for embedded SRAMs in the MBIST engine. The book also discusses a finding where failure analysis and silicon debug required an update to the algorithms and pattern backgrounds implemented in the MBIST.

Érdekelheti

62 070 Ft
62 070 Ft

Transfigured

Andrew P. Wilson
67 046 Ft
13 862 Ft

Air Pollution Emissions

Daniel G Vasiliev
64 702 Ft

Bridget Jones's Baby

Helen Fielding
6 043 Ft

Subterranean Cities

David L. Pike
60 617 Ft

Chaotic Waves

Adeeba Haider
8 585 Ft
5 972 Ft
5 501 Ft

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

L'ELIXIR DE LONGUE VIE

Honoré De Balzac
2 376 Ft