Testing Static Random Access Memories

Name: Testing Static Random Access Memories
Brand: Springer, Berlin
SKU: 9781441954305
Price: 38435 HUF
Availability: InStock

Defects, Fault Models and Test Patterns

Szerző: Said Hamdioui

Nyelv:

Kötés: Puha kötésű

Kiadó: Springer, Berlin

Elérhetőség: Beszállítói készleten

Küldés 5-8 napon belül

38 435 Ft

Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories...

Információk a könyvről

Szerző

Said Hamdioui

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Puha kötésű

Kiadva

2010

oldal

221

EAN

9781441954305

ISBN

1441954309

Enbook ID

01423708

Kiadó

Springer, Berlin

Súly

379

Méretek

160 x 240 x 13

Teljes leírás

Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Testing Static Random Access Memories

Defects, Fault Models and Test Patterns

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták