Könyv VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability Laung-Terng Wang

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Nyelv: Angol
Kötés: Puha kötésű
Elérhetőség: 50 % esély
Keressük az egész világon
35 518 Ft

Információk a könyvről

Nyelv
Angol
Kötés
Könyv - Puha kötésű
Kiadva
2006
oldal
808
EAN
9781493300860
ISBN
1493300865
Enbook ID
12234203

Teljes leírás

Érdekelheti

7 219 Ft
4 853 Ft
9 993 Ft
4 741 Ft
29 453 Ft

Megalithic Temples

A.J. Kingston
14 549 Ft

Release Me

Tahereh Mafi
3 928 Ft
2 918 Ft

Janelle's Pocket Posh Journal, Mum

Andrews McMeel Publishing
2 918 Ft
17 225 Ft

Just So Stories

Rudyard Kipling
3 102 Ft
3 632 Ft

Psalms

Longman
8 511 Ft

Hustlers

Douglas Thompson
5 423 Ft

Phenomenology and Logic

Bernard Lonergam
15 191 Ft

Saved By Love

Dexter Nunnery
6 249 Ft

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

4 682 Ft
5 324 Ft

???????

??????????
2 276 Ft
2 092 Ft

Cris

Laurent Gaudé
2 931 Ft

14

Jean Echenoz
6 464 Ft
5 836 Ft
2 806 Ft

Geschichte der Stadt Rom

Alfred Von Reumont
14 760 Ft