Könyv VLSI Test Principles and Architectures Laung-Terng Wang

VLSI Test Principles and Architectures

Szerző: Laung-Terng Wang
Nyelv: Angol
Kötés: Kemény kötésű
Elérhetőség: Kiadói készleten rendelésre
Küldés 28-34 napon belül
28 736 Ft
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a tes...

Információk a könyvről

Nyelv
Angol
Kötés
Könyv - Kemény kötésű
Kiadva
2006
oldal
808
EAN
9780123705976
ISBN
0123705975
Enbook ID
02703621
Súly
1806
Méretek
200 x 241 x 51

Teljes leírás

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. Most up-to-date coverage of design for testability. Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.

Érdekelheti

Rosyth

Martin Rogers
2 420 Ft
5 125 Ft
90 687 Ft
9 951 Ft
25 665 Ft

My Tooth is Loose

Lisa Cirillo
5 054 Ft

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták