Könyv X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing Brian K. Tanner

X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing

Szerző: Brian K. Tanner
Nyelv: Angol
Kötés: Kemény kötésű
Elérhetőség: Utánnyomás
Megjelenés ismeretlen
108 358 Ft
Emphasizes on practical metrology, with real world examples from the semiconductor and magnetics ind...

Információk a könyvről

Szerző
Nyelv
Angol
Kötés
Könyv - Kemény kötésű
Kiadva
2006
oldal
296
EAN
9780849339288
ISBN
9780849339288
Enbook ID
06734771
Súly
586
Méretek
162 x 245 x 21

Teljes leírás

Emphasizes on practical metrology, with real world examples from the semiconductor and magnetics industries. This book discusses the techniques, theory, and applications of X-ray metrology in semiconductors and other advanced thin films. It covers the essential metrological questions of precision and repeatability, absolute accuracy and spot size.

Érdekelheti

17 814 Ft
42 550 Ft

Now I Know Why Jesus Wept

Rhonda Denise Johnson
5 641 Ft

Mission of Jesus

Charles "Chic" Shaver
1 853 Ft

Corpus

Monica J. Casper
21 137 Ft

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták