Scanning Electron Microscopy

Name: Scanning Electron Microscopy
Brand: NY RESEARCH PRESS
SKU: 9781632384065
Price: 47856 HUF
Availability: InStock

Szerző: Lisa Page

Nyelv:

Kötés: Kemény kötésű

Kiadó: NY RESEARCH PRESS

Elérhetőség: 50 % esély

Keressük az egész világon

47 856 Ft

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments empl...

Információk a könyvről

Szerző

Lisa Page

Nyelv

Angol

Kötés

Könyv - Kemény kötésű

Kiadva

2015

oldal

292

EAN

9781632384065

ISBN

163238406X

Enbook ID

12434612

Kiadó

NY RESEARCH PRESS

Súly

572

Méretek

236 x 162 x 23

Teljes leírás

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Leggyakrabban keresett

Categories

Authors

Publishers

Termékek

Termékek

Scanning Electron Microscopy

Információk a könyvről

Teljes leírás

Érdekelheti

Azok a vásárlók, akik ezt a könyvet megvásárolták, a következőket is megvásárolták